Техническая диагностика средств вычислительной техники (49236)

Посмотреть архив целиком

ГОУ СПО Астраханский колледж вычислительной техники





М.В. Васильев
преподаватель специальных дисциплин
Астраханского колледжа вычислительной техники.





ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА

СРЕДСТВ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ


учебное пособие для преподавателей и студентов средних профессиональных учебных заведений по специальности 230101
«Вычислительные машины, комплексы системы и сети»











Астрахань 2007


Настоящее учебное пособие посвящено вопросам диагностики неисправностей средств вычислительной техники. Предлагаемое пособие написано в соответствии с действующей программой курса «Техническая диагностика СВТ», в соответствии с Государственным образовательным стандартом среднего профессионального образования по специальности 2201 “Вычислительные машины, комплексы, системы и сети” от 8 февраля 2002 года и Дополнением к Государственному образовательному стандарту по специализации 2201.01 “Техническое обслуживание средств вычислительной техники” от 25 сентября 2003 года. Настоящее пособие содержит основные теоретические положения, касающиеся организации, архитектуры и особенностей технической диагностики персональных ЭВМ типа IBM PC/AT. В пособии приведены методики профессионального обслуживания аппаратно-программных вычислительных систем, организованных на базе персональных компьютеров и углубленной диагностики их неисправностей. Большое внимание уделено программным и аппаратным средствам диагностики неисправностей компонент аппаратно-программной системы, ее периферийных устройств и использованию сервисных средств диагностики. В нем приведены также характеристики встроенных тест-программ, основные симптомы неисправностей СВТ, сообщения об ошибках загрузки операционной системы, прогоне прикладных программ и т. д.

Предлагаемое учебное пособие может быть использовано в качестве основного материала для лекционной работы преподавателей и учебного пособия для студентов средних учебных заведений по специальности 230101 «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети», при изучении ими дисциплины «Техническая диагностика средств вычислительной техники».


Введение


Настоящий курс лекций по дисциплине «Техническая диагностика средств вычислительной техники» входит в модуль специализации 230101.51 «Техническое обслуживание средств вычислительной техники» и является, наряду с дисциплинами «Техническое обслуживание средств вычислительной техники» и «Системотехническое обслуживание аппаратно-программных систем и комплексов», профилирующей – для получения студентами ССУЗ квалификации Техник базового уровня подготовки по специальности 230101.

Задачи курса:

1. Изучить структуру и архитектуру АПС типа РС.

2. Изучить основные средства функционального контроля и методы диагностики АПС.

3. Научиться проводить классификацию неисправностей по степени их жесткости и связи с компонентами ВС.

4. Изучить основные симптомы неисправностей АПС, возникающих при включении РС, загрузке ОС и прогоне прикладных программ.

5. Изучить симптомы аппаратных неисправностей системной платы, консоли и некоторых других периферийных устройств РС.

Содержание курса:

1. Для связи симптомов неисправностей с узлами и компонентами ПЭВМ следует хорошо разбираться в архитектуре, структуре ПЭВМ, для чего предназначен первый раздел курса, в котором рассматривается обобщенная блок-схема РС, архитектура микропроцессора, разновидности микропроцессоров, их структурная схема и функциональные сигналы управления. Для примера подробно рассматривается микропроцессор i386, как типичный представитель микропроцессоров четвертого поколения, использующихся в РС/АТ, начиная с IBM РС 386, и до современных моделей типа Pentium.

2. Для проведения углубленной диагностики неисправностей РС требуются достаточно глубокие знания по особенностям архитектуры как самого CPU, так и средств его системной поддержки. Поэтому здесь рассмотрено взаимодействие CPU с контроллером его системной поддержки, поддержки системной шины, а также с контроллерами и адаптерами ОЗУ, кэш-памяти, системной шины, устройств внешней памяти и ввода-вывода оперативной информации.

3. Далее рассматриваются основные методы диагностики основных периферийных устройств ПК – устройств консоли, внешней памяти, средств коммуникации компьютера, вывода аудиоинформации.

4. Во втором разделе настоящего пособия изучаются приемы разборки и сборки РС, аппаратный и программный аспекты диагностики АПС, стандартная и специальная КИА, используемая при аппаратном способе локализации неисправностей в РС, а также программные средства диагностики неисправностей РС.

5. Третий раздел пособия содержит достаточно подробные сведения о приемах автономного и комплексного методов функционального контроля АПС, АПК и их периферийного оборудования.


Раздел 1 Архитектура и структура ПЭВМ IBM PC и их клонов

Особенности контроля и диагностики микроЭВМ.


Персональный компьютер, как известно, относится к типу микро-ЭВМ, т. е. ЭВМ, используемых микропроцессорные структуры. Микро-ЭВМ, в отличие от других типов вычислительных устройств, имеет свои достоинства и недостатки в плане диагностики их неисправностей.

Поиск неисправностей в микроЭВМ осложнен целым рядом причин, наиболее важными из которых представляются следующие:

1) высокая сложность СБИС. Обычный однокристальный микропроцессор имеет около 200 внутренних запоминающих элементов (информационных, управляющих регистров и триггеров) и, соответственно, 2200 возможных состояний, поэтому полный контроль микропроцессорных СБИС практически невозможен и отдельные неисправности, вызванные взаимным влиянием отдельных элементов СБИС, могут проявляться в виде редких нерегулярных сбоев;

2) малое число контрольных точек схемы (выводов ИМС) приводит к тому, что подача тестирующих воздействий на нужные точки схемы и контроль их состояния носит косвенный характер. Доступ к внутренним элементам СБИС возможен только под микропрограммным управлением, т. е. генерация тестовых последовательностей возможна, в основном, только средствами микропрограммного управления самого микропроцессора или микроконтроллера;

3) неразделимость аппаратных и программных средств управления микропроцессорной системы. Часто провести четкую границу между аппаратными и программными средствами микропроцессорной системы нельзя, так как в большинстве микропроцессоров ПЗУ микропрограмм выполнено на самом кристалле СБИС микропроцессора;

4) сложность и неразделимость аппаратных средств микроЭВМ. Микропроцессорную систему часто невозможно разделить на отдельные функциональные узлы (ТЭЗ, как в больших ЭВМ), потому что часто вся микро-ЭВМ, или, по крайней мере, ее системная плата, исполняются в виде одного конструктивно законченного узла. Во-вторых, часто в одной СБИС, например, контроллере системной поддержки микропроцессора, совмещены различные функции: управление и выполнение арифметических процедур, запрограммированная конфигурация, выполнение функций ввода-вывода и т. д., и наоборот – одна функция может реализовываться по частям в разных СБИС и т. п. Так что диагностика неисправностей микро-ЭВМ требует высокой квалификации обслуживающего персонала;

5) необходимость одновременного контроля состояния шин. Микропрограммный характер генерации тестовых воздействий требует наблюдения и регистрации всех сигналов шин на больших временных интервалах, чтобы можно было зафиксировать редкие и однократные события. Эти события идентифицируются заданными комбинациями сигналов на шинах адреса, управления, данных, и даже заданной последовательностью таких комбинаций. Например, регистрация первичной ошибки только в n-м такте операции умножения с плавающей точкой, только с определенными операндами, да еще и на фоне обмена данными с принтером. Подобную регистрацию можно провести только на специальной нестандартной КИА – анализаторе логических состояний;

6) высокое быстродействие. Тактовая частота современных микропроцессоров достигает сотен МГц и даже ГГц, так что разрешающая способность стандартной и нестандартной КИА должна быть не ниже тысяч МГц, но такая аппаратура очень сложна, дорога и редка;

7) шинная организация микропроцессорной системы часто требует использования тристабильных элементов (с Z-состоянием) с подключением в одну точку многих передатчиков и источников сигналов, что приводит к трудностям определения источника искажения информации в магистрали;

8) мультиплексирумость шин микропроцессорной системы, вызываемая необходимостью сокращения числа выводов СБИС, приводит к временному разделению одной и той же шины между младшей и старшей частями адреса, адресом и данными, данными и сигналами управления и т. п. Это требует дополнительной идентификации характера информации на шине и сильно усложняет диагностику магистралей.

Но, наряду с вышеуказанными сложностями, микропроцессорные системы имеют и ряд преимуществ при диагностике неисправностей в них:

1) стандартная форма электрических сигналов. Важной особенностью всех цифровых, дискретных устройств, реализованных на стандартных наборах БИС, является стандартное представление информации электрическими сигналами одинаковой амплитуды (логические нуль и единица представляются сигналами нулевого уровня и/или сигналами уровня амплитудой порядка +5 вольт). В этом случае, прибегать к измерениям аналоговых величин (амплитуды, длительности фронтов), приходится только в блоках ЦАП и АЦП, или при подозрении на выход из строя одной из компонент схемы. Эта стандартность дает возможность разрабатывать КИА со средствами стандартного подключения к контролируемым точкам системы, что снижает стоимость такой КИА и, в большой степени, сокращает вероятность ошибок оператора. Примером такой КИА могут быть логические пробники и измерительные клипсы, одеваемые прямо на выводы исследуемых ИМС;


Случайные файлы

Файл
114183.rtf
153741.rtf
~1.DOC
95965.rtf
115850.rtf




Чтобы не видеть здесь видео-рекламу достаточно стать зарегистрированным пользователем.
Чтобы не видеть никакую рекламу на сайте, нужно стать VIP-пользователем.
Это можно сделать совершенно бесплатно. Читайте подробности тут.