Отчёт по теме Исследование структуры твердых тел методом рентгеноструктурного анализа (отчёт)

Посмотреть архив целиком




Практическая работа по предмету

Физико-химические основы микроэлектроники

Тема: Исследование структуры твердых тел методом рентгеноструктурного анализа.


Цель работ:

1) Овладение методами автоматизированного моделирования технологических процессов и физических свойств материалов.

2) Определение фазового состава пленки материала расчетным путём по заданным данным.

Методика:

Чтобы определить набор межплоскостных расстояний d/n = / 2 sin, надо выполнить следующие операции:

1) Рассчитать теоретические рентгенограммы, т.е. по известным из таблиц расстояниям d/n определить углы теор для предполагаемого состава исследуемого образца.

2) Определить положение всех интерференционных максимумов на рентгенограмме, построив гистограммы относительной интенсивности J%. Для каждого значения теор .

3) Сравнить эксп с теор и сделать вывод о структуре образца, пользуясь данными рис.4.3.



 = 0.709 Ао



Интенсивность, J, %

d/n

sin

теор.

40

2.556

0.138

7.932

40

2.341

0.151

8.684

100

2.241

0.158

9.090

40

1.728

0.205

11.829

40

1.477

0.240

13.886

50

1.336

0.259

15.010

40

1.249

0.283

16.439

30

1.233

0.287

16.678

10

1.176

0.301

17.517

10

1.125

0.315

18.360

20

1.065

0.332

19.390

30

0.989

0.358

20.977

30

0.942

0.376

22.086

30

0.917

0.386

22.705

10

0.88

0.399

23.515



Случайные файлы

Файл
186853.rtf
55.doc
168703.rtf
14198.rtf
152836.rtf




Чтобы не видеть здесь видео-рекламу достаточно стать зарегистрированным пользователем.
Чтобы не видеть никакую рекламу на сайте, нужно стать VIP-пользователем.
Это можно сделать совершенно бесплатно. Читайте подробности тут.