Морфологические характеристики ПС и их взаимосвязь с оптическими свойствами (Kurs)

Посмотреть архив целиком

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ

ГРОДНЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

имени я.купалы













Курсовая работа по специализации, на тему: морфологические характеристики ПС

и их взаимосвязь с оптическими свойствами













Курсовая работа студента 5-го курса 1-ой группы физико–технического факультета дневного отделения Манжела Александра Николаевича


Научный руководитель:

Василюк Генадий Тимофеевич







Гродно 2001


СОДЕРЖАНИЕ




Введение 3


  1. Техника и методика эксперимента и расчета 4


  1. Морфология и спектры оптической плотности пленок серебра 5


  1. взаимосвязь оптических характеристик и параметров шероховатости поверхности пленок серебра 7


ВЫВОДЫ 14


СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 15

































Введение



В спектроскопии гигантского комбинационного рассеяния (ГКР) света в качестве ГКР- активных поверхностей (субстратов) широко применяются пленки серебра (ПС), получаемые методом вакуумного напыления металла на стеклянные подложки и характеризующиеся высоким коэффициентом усиления КР 1-7. Наиболее критическими параметрами, ограничивающими использование таких субстратов в аналитических и физико- химических приложениях, являются

-быстрая (за 10- 12 часов после напыления) деградация КР-усилительных свойств, объясняемая окислением кластеров серебра, образующих микроскопические дефекты поверхности- адсорбционные центры для молекул аналита;

-нестабильность ПС в растворах некоторых органических растворителей (например, ацетонитрил);

-свойства поверхности ПС, препятствующие адсорбции молекул, обладающих положительно заряженными фрагментами и, следовательно, делающие невозможным их изучение методами ГКР;

-нарушение структуры адсорбированных молекул благодаря сильным (часто химическим) взаимодействиям между молекулами и поверхностью.

Известно также, что стабильность, адсорбционные и оптические свойства ПС определяются морфологией ее поверхности.

В настоящей работе методами математической статистики (корреляционного и факторного анализов) изучена взаимосвязь оптических характеристик пленок серебра (ПС) с параметрами их поверхности.


  1. Техника и методика эксперимента и расчета.



Пленки серебра получены путем вакуумного (р10-5 Торр) напыления серебра на стеклянные подложки со скоростью 0.04 нм/с в рабочей камере вакуумного поста ВУП-5. Термический отжиг пленок проводили на воздухе (в муфельной печи) при температуре до 350С 8.

Для регистрации спектров оптической плотности использовался спектрометр SPECORD UV-VIS (Carl Zeiss). Контроль за структурой поверхности пленок осуществлялся с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) фирмы “Нанотехнология” (Москва). Все измерения выполнены при комнатной температуре.

Проанализировано 40 образцов ПС с различными спектрами оптической плотности. Статистическая обработка результатов эксперимента проводилась методами корреляционного и факторного анализов с использованием специализированного программного пакета. Факторный анализ проводился методом главных компонент, в котором в качестве критерия оптимальности используют минимум расхождения между ковариационной матрицей исходных признаков и той, которая получается после оценки нагрузок (мера “расхождения” двух матриц в данном случае есть евклидова норма их разности).


  1. Морфология и спектры оптической плотности пленок серебра.



Структура поверхности ПС зависит от условий их приготовления (скорости напыления, температуры подложки, материалов пленки и подложки и процедуры термической обработки после напыления пленки) [9-11].

Изучение морфологии используемых в наших исследованиях пленок серебра методами атомно-силовой микроскопии показывает, что исходные (неотожженные) пленки серебра представляют собой сплошную пленку толщиной 10…15 нм со случайными шероховатостями высотой 0.1…5 нм (рис.1.1, 1.2). В результате отжига поверхность пленки преобразуется в квазипериодическую островковую структуру с полуэллипсоидальными островками высотой 40…80 нм и сглаженными наноразмерными шероховатостями (рис.1.3, 1.4), а также с улучшенными адсорбционными свойствами по отношению к положительно заряженным фрагментам адсорбатов 12. Шероховатости поверхности пленки могут быть охарактеризованы поперечными взаимно ортогональными размерами A и B, а также высотой кластеров Hreal. Форма частиц оценивалась отношением (R) высоты (Hreal) к поперечному размеру (B) (R = Hreal /B), а также отношением (L) главного поперечного размера (A) к ортогональному ему размеру (B) (L = A/B).


Рис. 1. АСМ изображения (1, 3) и сечение в плоскости ZУ (2, 4) исходной (1, 2) и отожженной (3, 4) ПС. Разрешение АСМ: 0.5 нм.



Оптические характеристики и КР-усилительные свойства ПС определяются, главным образом, структурой их поверхности.

Так, спектры оптической плотности ПС определяются, в основном, возбуждением на металлических шероховатостях поверхностных плазменных резонансов 12.

В результате термической модификации наблюдается 300нм гипсохромный сдвиг максимума полосы оптической плотности (рис.2), соответствующей возбуждению “плоскостных” мод поверхностных плазмонов, и ее сужение 12, 13. Кроме того, после отжига (ведущего к увеличению высоты островков) появляется новая (350нм) полоса, соответствующая нормальной компоненте плазмонных осцилляций.


Рис. 2. Спектры оптической полотности ПС:исходной (1); отожженной при 125С (2), при 175С (3), при 225С (4), при 350С (5).


3. взаимосвязь оптических характеристик и параметров шероховатости поверхности пленок серебра.



Экспериментальные данные об оптических параметрах 40 образцов ПС, полученные из спектров оптической плотности (максимальное значение оптической плотности Dmax, значение ее Dexc на длине волны возбуждения exc, длина волны max в максимуме оптической плотности, полуширина полосы оптической плотности , “отстройка” длины волны возбуждения max-exc, произведения и отношения этих параметров- Dmax (), Dmax/(), Dexc/(), Dmax/()(max-exc)), и средние значения параметров шероховатости поверхности этих ПС (максимальная высота Hmax, реальная высота Hreal, поперечные размеры A и B, минимальное расстояние между островками Dist, коэффициенты формы островков HrealA, HrealB, AB), полученные из АСМ-изображений, сведены в (табл. 1).

С применением метода корреляционного анализа из программного пакета STATISTICA for Windows были рассчитаны коэффициенты линейной корреляции оптических параметров ПС с результатами АСМ-изучения поверхности пленок (табл. 2).

Установлено, что наиболее коррелируют: максимальное значение оптической плотности с расстоянием между островками (коэффициент корреляции 0,95) и коэффициентом формы островков R (0,76); так называемый параметр “качества” спектра оптической плотности Dmax/() с расстоянием между островками (0,93) и коэффициентом формы островков R (0,68); полуширина полосы оптической плотности с расстоянием между островками (-0,79). В приводимой для сравнения таблице коэффициентов корреляции оптических параметров и параметров шероховатости отдельно для о-ПС (табл. 3) эти зависимости проявляются еще более наглядно (вследствие более точной аппроксимации островков и более достоверной программной обработки АСМ-изображений о-ПС по сравнению с н-ПС).

Результаты факторного анализа (табл. 4, рис. 3,4) также подтверждают наличие взаимосвязей, выявленных методами корреляционного анализа. Факторный анализ проводился методом главных компонент. В соответствии с графиком собственных значений факторов (рис. 3), для нашей модели были выбраны первые четыре фактора. Факторные нагрузки для них приведены в (табл. 4). Из таблицы видно, что первый фактор наиболее значим и именно он объединяет (связывает) оптические параметры с параметрами шероховатости ПС. При этом, как видно из таблицы, наиболее связаны между собой минимальное расстояние между островками Dist, максимальное значение оптической плотности ПС Dmax и параметр спектра оптической плотности ПС Dmax/(). Это же иллюстрируется двумерным (рис. 4) графиками факторных нагрузок.

Таблица 1.

Данные по спектрам оптической плотности и параметры шероховатости поверхности пленок серебра



λmax, нм

Dmax·(Δλ/2) , нм

Dmax

Dmax/D2

Dmax/(Δλ/2) , нм-1

Hmax, нм

A, нм

B, нм

Dist, нм

Hreal, нм

Hreal/A

Hreal/B

A/B

455

87,36

0,84

104

0,0081

70,2

120,0

43,7

112,70

31,5

0,26

2,17

2,75

500

97,96

0,79

121

0,0065

90,3

80,4

56,1

85,44

46,7

0,64

0,84

1,43

445

67,20

0,84

80

0,0105

64,2

74,2

49,4

106,80

38,2

0,52

0,77

1,54

500

90,28

0,61

148

0,0056

100,0

113,2

50,0

80,00

36,5

0,38

0,73

2,27

455

80,01

0,63

127

0,0049

132,7

87,1

51,9

75,00

56,8

0,77

1,15

1,77

457

71,34

0,82

87

0,0094

230,0

120,0

71,9

104,80

131,8

1,10

1,93

1,85

475

80,34

0,78

103

0,0075

244,3

120,0

82,5

94,13

102,0

0,85

1,33

1,45

445

63,65

0,67

95

0,0070

115,4

101,8

80,0

80,00

53,8

0,67

0,80

1,28

430

62,70

0,66

95

0,0069

109,4

90,0

70,0

78,77

40,0

0,44

0,57

1,29

650

275,00

0,55

500

0,0011

2,8

88,8

39,1

57,90

1,4

0,23

0,04

1,98

580

229,50

0,51

450

0,0011

14,6

55,1

26,3

49,69

3,3

0,10

0,13

1,83


Случайные файлы

Файл
153505.rtf
90887.rtf
101556.rtf
113903.rtf
17215-1.rtf




Чтобы не видеть здесь видео-рекламу достаточно стать зарегистрированным пользователем.
Чтобы не видеть никакую рекламу на сайте, нужно стать VIP-пользователем.
Это можно сделать совершенно бесплатно. Читайте подробности тут.